實驗室的極限 SAXS 系統(tǒng)

安東帕準確并可靠的解決方案為 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 納米結構材料的日常研究，提供出色的分辨率和較高的數(shù)據(jù)質(zhì)量。

SAXS 系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

從高質(zhì)量數(shù)據(jù)中獲益

安東帕的 SAXSpoint 5.0 和 SAXSpace 小角 X 射線散射系統(tǒng)使用明亮的 X 射線光源和光學器件以產(chǎn)生具有較大光譜純度和高通量的 X 射線光束。結合系統(tǒng)的無散射光束準直以及*的混合光子計數(shù) (HPC) 檢測器，能夠得到高信噪比和出色的總體數(shù)據(jù)質(zhì)量。

應用的靈活性

安東帕納米結構分析儀為納米結構樣品提供了十分全面、用途廣泛的樣品臺選擇。無論您要進行納米結構表面的研究、拉伸測試、受控溫度下的結構研究還是濕度或壓力或氣體反應測量，

安東帕SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS系統(tǒng)都能夠很方便配置來表征納米結構樣品。

從同時 SAXS/WAXS 功能獲益

完整的納米結構材料分析需要小散射角和大散射角下的 X 射線散射數(shù)據(jù)。安東帕納米結構分析儀能夠自動同時 SAXS 和 WAXS 測量，提供超高的小角范圍內(nèi)的角分辨率以及廣角散射信息。

每天享有可靠的納米研究

分析儀工作時間長、維護成本低且操作可靠。分析儀創(chuàng)新且可靠的設計確保了其可用性，因此也允許樣品高通量。平穩(wěn)的運作以及持續(xù)穩(wěn)定的優(yōu)異測量結果對納米結構材料的研究起到了支持作用。

依靠深厚的應用知識

納米結構分析儀可獲得全面的維護：一旦安裝好系統(tǒng)并試運行后，專業(yè)的安東帕專家會提供全面的現(xiàn)場用戶培訓以幫助您充分利用儀器。安東帕具有超過 60 年的經(jīng)驗，已經(jīng)成為 SAXS/WAXS/GISAXS 納米結構分析領域成功和可靠的合作伙伴。